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分立器件高低温在线测试系统

分立器件高低温在线测试系统

HL100-3193分立器件高低温在线测试系统,HL100-3187光电耦合器高低温在线测试系统,HL100-3199模拟集成电路高低温在线测试系统,是为***、航空、航天等单位开发生产的电子元器件常温、高温、低温在线连续自动测试专用设备。

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联系方式

  • 联系人:
    何先生
  • 职   位:
    销售
  • 地   址:
    北京 海淀区 北三环中路31号泰思特大厦1号楼
是否进口:否产地:北京加工定制:是
品牌:北京励芯型号:HL-100高低温在线测试:负55正150
高低温测试:负55正150分立器件测试:负55正150电子元器件测试:负55正150
光耦测试:负55正150

HL100-3193分立器件高低温在线测试系统,HL100-3187光电耦合器高低温在线测试系统,HL100-3199模拟集成电路高低温在线测试系统,是为***、航空、航天等单位开发生产的电子元器件常温、高温、低温在线连续自动测试专用设备。能使用户实现对二极管、三极管、光耦等半导体分立器件以及运放、电压调节器等模拟集成电路的常温、低温、高温连续测试。免去了以往要拿出高低温箱再进行测试的不便及误差。

被测器件在设定温度下全程封闭式测试,确保温度更准确,精度更高,设定好常温,低温,高温后自动切换温度,自动测试,自动保存数据,省去人工看守。

系统组成:

1、高低温循环测试舱

2、励芯泰思特产测试系统(BC3193半导体分立器件测试系统等)



技术指标:

测试舱温度范围:-55°C至 +150°C(-65°C至 +200°C 可选)

测试舱温度稳定性:±2°C

测试舱温度稳定均匀度:±2°C

测试舱升温时间:从常温升温到+150°C用时10分钟

测试舱降温时间:从常温降温到-55°C用时20分钟

测试舱功率:根据设定舱体温度不同为7KW

冷却方式:水冷或风冷可选

可编程键盘:用户可自定义测试舱温度,或按一定比率步进设置温度变化及温度循环

器件测试:49~196个工位被测器件可单步测试也可以连续测试

接口控制:测试舱可通过IEEE总线或RS232端口程控


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